Новый подход к
моделированию полей
Языковые версии сайта:

>> >> >>

Исследования влияния отверстий на эффективность экранирования корпуса с помощью МКЭ

Кечиев Л. Н., Сафонов А.А.. Московский институт электроники и математики (МИЭМ).

Многочисленные аналитические подходы к моделированию корпусов электронной аппаратуры не обеспечивают должной точности, а во многом дают противоречивые результаты. Поэтому для расчета экранов, особенно для расчета экранов сложной конфигурации, особенно эффективен метод конечных элементов (МКЭ)..

Download Скачать полный текст (в формате PDF)

Сертификаты ELCUT по ГОСТ, СП, ИСО, СанПиН


Карта сайта